五金工具類
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貨號: #XPR226DRQ/AC
庫存: 100件
規格選項:
瑞士METTLER TOLEDO 梅特勒 電子天平 XPR226DRQ/AC
分析天平是一種高精度的測量儀器，用于以極高的精度和準確度確定小樣品的質量。它常用于科學研究、分析化學和質量控制領域，因為重量的微小變化都會產生重大影響。
梅特勒-托利多分析天平的容量范圍從 22 克到 520 克，可讀性從 0.001 到 1mg 不等，非常適合密度測定、樣品制備、差分稱重、配方和校準移液器等敏感應用。
規格 - 分析天平 LA84/A
最大秤量 82 g
可讀性 0.1 mg
重復性（典型）0.08 mg
最小秤量值 (U=1%, k=2)，典型16 mg
穩定時間 3 s
校正 內部
接口RS232
藍牙（可選）
顯示屏 背光液晶顯示屏
最小稱量值（符合USP，允差為0.1%，典型）160 mg
秤盤直徑80 mm
外形尺寸 (高x寬x深) 345 mm x 210 mm x 308 mm
可讀性（經認證） 1 mg
認證天平 是
天平系列 LA
天平型號 分析天平
等級 標準系列